4吋激光干涉儀
激光干涉儀采用相移技術(shù)準(zhǔn)確表征被測(cè)表面的三維形貌，測(cè)量精度高達(dá) 0.06um 甚至更高，廣泛用于平面光學(xué)元件高精度檢測(cè)
- 產(chǎn)品描述
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激光干涉儀采用相移技術(shù)準(zhǔn)確表征被測(cè)表面的三維形貌，測(cè)量精度高達(dá) 0.06um 甚至更高，廣泛用于平面光學(xué)元件高精度檢測(cè)
- 產(chǎn)品特性
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1. 準(zhǔn)確測(cè)量 100mm 口徑以下的光學(xué)元件的透射波前、反射波前。
2. 測(cè)量精度和測(cè)量重復(fù)性能媲美美國 Zygo 和 4D 干涉儀。
3. 根據(jù)客戶要求定制開發(fā)。 - 技術(shù)參數(shù)
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